直流偏流源WK3265B

量測參數

 

以下任何參數皆可測試并顯示于LCD：

 

電感模式

 

電感（L），電阻（Z），

 

直流電阻Rdc及電容（C）。

 

適用串聯/并聯等效電路

 

Loss term：品質因素（Q），

 

消散因素（D），交流電阻，相位角……等

 

Handier模式

 

Enables existing 4-wire scanners tobe used

 

Functions as for impedancd mode

 

With the addition of tuns ratio

 

變壓器測試模式

 

各線圈之直流電阻，初級圈/次級圈之漏電感（Leakage lnductance）及品質因素（Q），圈數比（TR），線圈間電容（lnterwinding Capacitance）及漏電感（Leakage lnductance）另可搭配絕緣測試功能（選購）。

 

通訊測試模式

 

提供插入損失（IL）及反射損失（RL）測試功能，適合于通訊用匹配變壓器speech band(100Hz to 20KHz).可選擇的line impedance(Zo)及termination(Rt)值，并可設定額外的模擬阻抗及電容。

 

圓形分析模式

 

可在量測模式下以頻率或AC電壓為掃描基準，來執行圓形掃描度顯示結果?？蛇x擇以linear或log為座標。

 

多頻率測試模式

 

可在量測模式下設定量測參數及測試條件，*多8種不同的測試頻率，PASS/FAIL提示功能設定（依一般值或百分比）。

 

測式條件

 

低電壓信號位準

 

適用于量測L+Q，Ls+Rs,

 

C,Z,Turns Ratio及Leakage

 

Lnductance

 

頻率范圍

 

20Hz to 3MHz(測試lnterwinding C時低點為1KHz)

 

頻率波段

 

Lncrements of 1% or better across

 

Range 1200 frequencies approx

 

精準度 ±0.01%

 

信號位準

 

內阻50Ω

 

1mV to 10V rms into open circuit

 

50uA to 200mA rms into short circuit

 

ALC maintains level applied to

 

DUT at

 

±2%,±1mV of set voltage or

 

±2% ±0.1mA of set current

 

DC bias 直流偏壓電流

 

內建1mA to 1A dc,全頻率快速設定

 

安全保護開關設計

 

直流電阻測試

 

低電壓信號位準 100mV

 

短路電流 10mA

 

絕緣測試（選購）

 

測試電壓選擇 100，200 or 500V dc.

 

電壓輸出誤差范圍 ±3%

 

為了使用者操作安全，短路時限流2mAc 以下

 

Bin Handler模式（選購）

 

依照一般值或百分比設定高點10段分類功能。

 

提供個別的Pass/Fail信號輸出。

 

內建記憶體，可儲存100組分類范圍設定，TTL輸出至外接bin handler/25pin

 

D type 接頭

 

通訊測試模式（選購）

 

輸出信號位準 -28至16dBm

 

測試時間依信號準而有所有不同

 

Zo/Rt 50-2000Ω

 

一般測試時間 ＜1.5S

 

量測速度

 

在做阻抗,圈數比,直流電阻以及絕緣等測試時,共有4種測試速度可依同需求做適當選擇,MAXimum,FAST,

 

MEDium 及 SLOW

 

MAX(25次/秒)適合于連接IEEE

 

488.2外部控制時使用

 

FAST約10次/秒

 

SLOW約1次/秒 適用于需要高精度度時.

 

量測范圍

 

R 0.1MΩ TO ＞ 2GΩ*

 

L 0.1nH to ＞ 1000H *

 

C 5Ff to ＞ 1F

 

精準度

 

Lnductance/Rac/Z/Cp ±0.1%**

 

Q ±0.1%(Q+1/Q)**

 

D ±0.001%(1+1/D2)**

 

Turns ratio ±0.1%**

 

Rdc ±0.5%

 

lnsulation ±5%(500V test)

 

lnsertion Loss ±0.1%dB

 

Return Loss ±1%dB

 

精準度依frequency,Zo,Rt,range,leve等設定不同而有所變化.

 

*依測試速度不同而有所變化.

 

**依頻率及選用功能不同而有所變化.