電子冷熱沖擊測試設備 測試標準UL1703

　　電子冷熱沖擊測試設備 測試標準UL1703技術指標： www.lrcjy.com

　　1.冷凍系統：復疊水冷式歐美塬裝進口半密閉式或風冷式全封閉高效壓縮機組.

　　2.安全保護裝置：無熔絲過載探保護,壓縮機過熱,過流,超壓,加熱干燒,箱內超溫警報系統.

　　3.標準配置：測試孔(￠50x1只),試料架(2組).

　　4.電源：AC3￠5W380V50HZ.

　　5.滿足標準：國軍標GJB150.3-86;國軍標GJB150.4-86;國軍標GJB150.5-86

　　6.冷凍系統采用復迭高效低溫回路系統設計，冷凍機組采用歐美塬裝進口壓縮機，并采用對臭氧系數為零的綠色環保(HFC)制冷劑R507，R23.

　　7.具96個試驗規范獨立設定,沖擊時間999小時59分鐘,循環周期1~999次可設定,可實現制冷機自動運轉，*大程度上實現自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時間自動啟動、停止工作運行;

　　8.箱體左側具一直徑50mm之測試孔，可供外加電源負載配線測試部件。

　　9.超強安全保護功能：電源過載保護、漏電保護、控制回路過載、短路保護、壓縮機保護、接地保護、超溫保護、報警聲訊提示等。 www.zjpct.com

　　10.箱體內外部材質采用不銹鋼板(SUS#304),外部材質有種不同外箱材質可供選擇:

　　11.可擴充性“可擴充液態氮(LN2)快速低溫沖擊控制裝置。

　　12.沖擊恢復時間：高溫(150℃)沖擊30分鐘.

　　13.低溫：(-40℃or-55℃or-65℃)沖擊30分鐘.

　　14.沖擊恢復時間：5分鐘以內.

　　15.風門開啓時間：3秒已內

　　16.保溫層：PU發泡.

　　17.底座:國標角鐵+國標槽鋼.

　　18.詳細規格以相應規格書為準.

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　　1.規格型號：TS-80

　　2.內箱尺寸：50*40*50cm

　　3.內箱材質:SUS304#8K鏡面不銹鋼板.

　　4.外箱材質：特殊防銹處理之鋼板噴塑或SUS304#紋路處理之不銹鋼.

　　5.高溫槽溫度范圍：+60~200℃.

　　6.低溫槽溫度范圍：A:(-55~-10℃).B:(-65~-10℃).D:(-80~-10℃).

　　7.實驗箱沖擊溫度：高溫60~150℃

　　8.低溫A:(-10~-40℃)B:(-10~-55℃)D:(-10~-65℃)

　　9.升溫時間：60~200℃小于35分

　　10.降溫時間：A:+20~-55℃小于75分B:+20~-65℃小于80分D:+20~-75℃小于90分.

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　　1.具備全自動，高精密系統回路、任一機件動作，完全有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動演算控制,溫度控制精度高.

　　2.先進科學的空氣流通循環設計，使室內溫度均勻，避免任何死角;完備的安全保護裝置，避免了任何可能發生安全隱患，*保*設備的長期可靠性

　　3.可設定循環次數及除霜次數自動(手動)除霜.

　　4.出風口于回風口感知器檢測控制，風門機構切換時間為10秒內完成，冷熱沖擊溫度恢復時間為5分鐘內完成。

　　5.運轉中狀態顯示及曲線顯示,發生異常狀況時,螢幕上即刻自動顯示故障點及塬因和提供排除故障的方法,并于發現輸入電力不穩定時,具有緊急停機裝置。

　　6.產品外形美觀、結構合理、工藝先進、選材考究，具有簡單便利的操作性能和可靠的設備性能。

　　7.設備分為高溫箱,低溫箱,測試箱叁部分,采獨特之斷熱結構及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物完全靜止，應用冷熱風路切換方式將冷,熱溫度導入測試區實現冷熱沖擊測試目的.

　　8.采用采用*先進的計測裝置,控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話式LCD人機接口控制器,操作簡單,學習容易,穩定可靠,中，英文顯示完整的系統操作狀況、執行及設定程序曲線。

　　9.可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊叁種不同條件之功能，并于執行冷熱沖擊條件時,可選擇二槽式或叁槽式及冷沖、熱沖進行沖擊之功能，具備高低溫試驗機的功能。

　　10.紋路處理不銹鋼表面，如經常順著紋路擦拭，可使機器長時間保持嶄新的外觀(推*此種選擇)

　　11.特殊防銹處理鋼板靜電噴涂表面，質地高檔(依客戶要求)

　　12.每個產品都根據客戶的要求訂做，*保*了設備的高效節能，并在現場調試和驗收，*保*用戶方的使用性能。

　　電子冷熱沖擊測試設備 測試標準UL1703用途： www.lrcjsyx.com

　　電子冷熱沖擊測試設備 測試標準UL1703用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業，國防工業、航天、兵工業、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具.